การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์

Abstract

งานวิจัยนี้ศึกษาการตรวจสอบในกระบวนการผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์พบว่ามีของเสียหลุดจากการตรวจสอบและถูกส่งไปให้กับลูกค้าจำนวนมาก ของเสียที่พบมากกว่า 80 เปอร์เซ็นต์สามารถมองเห็นและตรวจพบได้ด้วยสายตาจากลักษณะภายนอก จากการวิเคราะห์ระบบการตรวจสอบเดิมพบว่าผลการตรวจสอบขาดความถูกต้องและการตรวจสอบซ้ำให้ผลไม่เหมือนกัน พิจารณาได้จากเปอร์เซ็นต์ประสิทธิผลด้านไบอัสและเปอร์เซ็นต์ประสิทธิผลด้านรีพีททะบิลิตี้มีค่าเท่ากับ 43 เปอร์เซ็นต์ และ 47 เปอร์เซ็นต์ ตามลำดับ จึงได้ปรับปรุงระบบการตรวจสอบและประเมินผลพนักงานอีกครั้งค่าดัชนีความมีประสิทธิผลเพิ่มขึ้นเป็น 97 เปอร์เซ็นต์ทั้งสองดัชนี นอกจากนี้ยังได้วัดผลในเรื่องความแตกต่างกันของผลการตรวจสอบของพนักงงานทีละคู่ด้วยค่าสัมประสิทธิ์ Kappa ผลการวิเคราะห์สามารถยอมรับการตรวจสอบของพนักงานทุกคนได้ แผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันกำหนดมาจากตารางมาตรฐาน ANSI/ASQC Z1.4 ให้ค่าระดับคุณภาพลอตงานหลังจากสุ่มตรวจสอบสูงสุด (AOQL) เท่ากับ 0.0147 เปอร์เซ็นต์ โรงงานกรณีศึกษาต้องการคุณภาพลอตงานหลังตรวจสอบอยู่ที่ AOQL เท่ากับ 0.005 เปอร์เซ็นต์จึงกำหนดแผนการสุ่มตัวอย่างขึ้นใหม่ เปรียบเทียบการทำงานของแผนการสุ่มตัวอย่างด้วยเส้นโค้ง OC และวิเคราะห์ค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบ เส้นโค้ง OC ของแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอมีความสามารถแยกลอตงานดีออกจากลอตงานเสียได้ดีกว่าและค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบลดลงกว่า 50 เปอร์เซ็นต์จากค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบของแผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันคิดเป็นเงินเท่ากับ 26,570.4 บาท และแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอคิดเป็นเงินเท่ากับ 17,789.4 บาท